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Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0

Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0

Dual-Head Spring Test Probe

High-Frequency IC Test Probe

Gold-Plated Pogo Pin

Lugar de origem:

China

Marca:

WINNER

Certificação:

ISO9100

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Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0
Detalhes do produto
Nome do produto:
sonda de ensaio de mola
barril:
PB, dourado
Êmbolo Inferior:
BeCu/SK4, banhado a ouro
Êmbolo SUPERIOR:
SK4 (Seja Cu)/banhado a ouro
PRIMAVERA:
SWPB(SUS)/banhado a ouro
Disponibilidade:
Tamanhos personalizados disponíveis
Revestimento:
Ouro banhado
Classificação atual:
2a
Resistência de contato:
100 mohms no máximo
Largura de banda:
-0,85 dB a 19,6 GHz
indutância:
1,27nH
Captação:
1,62pF
Golpe total:
1,0 mm
Duração nominal:
0,65 mm
Força de mola:
25 gramas @ 0,65 mm
A vida mecânica excede:
200k
Destacar:

Dual-Head Spring Test Probe

,

High-Frequency IC Test Probe

,

Gold-Plated Pogo Pin

Termos do pagamento & do transporte
Quantidade de ordem mínima
3000pcs
Preço
999
Detalhes da embalagem
Embalagem neutral ou com logotipo OEM
Tempo de entrega
5-8 dias úteis
Termos de pagamento
L/C, União Ocidental, T/T
Habilidade da fonte
100000 rolos por mês
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Descrição do produto
Dual-Head High-Frequency IC Test Probe YF DE2-055BB30-01C0
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE2-055BB30-01C0. Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications, featuring high efficiency BGA testing capabilities.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 0
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 1
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 2
Detailed Component Illustration
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 4
Our probe manufacturing facility
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 5
Quality control inspection
Dual-Head High-Frequency Gold-Plated Spring Test Probe for IC Testing YF DE2-055BB30-01C0 6
Packaged probes ready for shipment
Etiquetas：

Eletrônicos de arame de tungstênio revestidos de ouro

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Eletrónica de fios de molibdênio revestidos de ouro

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