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Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0

Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0

Sonda de ensaio IC de duas cabeças

Sonda de ensaio de mola de alta frequência

Sonda de ensaio YF DE1

Lugar de origem:

China

Marca:

WINNER

Certificação:

ISO9100

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Detalhes do produto
Nome do produto:
sonda de ensaio de mola
barril:
PB, dourado
Êmbolo Inferior:
BeCu/SK4, banhado a ouro
Êmbolo SUPERIOR:
SK4 (Seja Cu)/banhado a ouro
PRIMAVERA:
SWPB(SUS)/banhado a ouro
Disponibilidade:
Tamanhos personalizados disponíveis
Revestimento:
Ouro banhado
Classificação atual:
2a
Resistência de contato:
100 mohms no máximo
Largura de banda:
-0,85 dB a 19,6 GHz
indutância:
1,27nH
Captação:
1,62pF
Golpe total:
1,0 mm
Duração nominal:
0,65 mm
Força de mola:
25 gramas @ 0,65 mm
A vida mecânica excede:
200k
Destacar:

Sonda de ensaio IC de duas cabeças

,

Sonda de ensaio de mola de alta frequência

,

Sonda de ensaio YF DE1

Termos do pagamento & do transporte
Quantidade de ordem mínima
3000pcs
Preço
999
Detalhes da embalagem
Embalagem neutral ou com logotipo OEM
Tempo de entrega
5-8 dias úteis
Termos de pagamento
L/C, União Ocidental, T/T
Habilidade da fonte
100000 rolos por mês
Descrição do produto
Proba de ensaio de pin de contacto do interruptor de alta qualidade YF DE1-051DF57-01C0
Pins de ensaio de semicondutores com molas de precisão concebidos para um desempenho fiável em aplicações de ensaio exigentes, com capacidades de ensaio BGA de alta eficiência.
Principais características do produto
  • Revestimento em ouro de alta condutividade:O êmbolo e o cano revestidos de ouro garantem baixa resistência ao contato e transmissão estável do sinal
  • Tipos múltiplos:Disponível em ponta B (60° cone), ponta U, ponta D e geometrias totalmente personalizadas
  • Estrutura de molas durável:Primavera de aço inoxidável (material SUS) fornece curso de trabalho estável e força de contato confiável
  • Fabricação sob medida:OEM/ODM aceito com entrega rápida da nossa fábrica
Imagens do produto
Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 0


Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 1
Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 2
Ilustração detalhada dos componentes
Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 3
Comparação de diferentes tipos e configurações de pontas das sondas de ensaio
Opções de personalização
A SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. oferece personalização completa para nossas sondas de teste de mola de barril de latão de aço inoxidável:
  • Diâmetros personalizados para atender às suas necessidades específicas
  • Espessuras de revestimento personalizadas para condutividade e durabilidade ideais
  • Especificações mecânicas personalizadas adaptadas à sua aplicação
Todos os produtos incluem documentação de rastreabilidade de materiais e certificado de análise para garantia de qualidade.
Processo de Fabricação
Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 4
A nossa fábrica de sondas
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Inspecção de controlo de qualidade
Sonda de ensaio de circuito integrado de alta frequência de duas cabeças YF DE1-051DF57-01C0 6
sondas embaladas prontas para envio

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