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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing

Gold Plated Spring Test Probe

2A Current Rating Test Probe

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Lugar de origem:

China

Marca:

WINNER

Certificação:

ISO9100

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Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing
Detalhes do produto
Nome do produto:
sonda de ensaio de mola
barril:
PB, dourado
Êmbolo Inferior:
BeCu/SK4, banhado a ouro
Êmbolo SUPERIOR:
SK4 (Seja Cu)/banhado a ouro
PRIMAVERA:
SWPB(SUS)/banhado a ouro
Disponibilidade:
Tamanhos personalizados disponíveis
Revestimento:
Ouro banhado
Classificação atual:
2a
Resistência de contato:
100 mohms no máximo
Largura de banda:
-0,44 dB a 19,6 GHz
indutância:
1,36nH
Captação:
1,76pF
Golpe total:
1,8 mm
Duração nominal:
1,8 mm
Força de mola:
40 gramas @ 1,8 mm
A vida mecânica excede:
200k
Destacar:

Gold Plated Spring Test Probe

,

2A Current Rating Test Probe

,

Custom Sizes Semiconductor Test Pin

Termos do pagamento & do transporte
Quantidade de ordem mínima
3000pcs
Preço
999
Detalhes da embalagem
Embalagem neutral ou com logotipo OEM
Tempo de entrega
5-8 dias úteis
Termos de pagamento
L/C, União Ocidental, T/T
Habilidade da fonte
100000 rolos por mês
PRODUTOS CONEXOS
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Descrição do produto
High Quality Switch Contact Pin Test Probe YF DE1-048DB81-01C0
High Efficiency BGA Testing Probes
Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.
Key Product Features
  • High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
  • Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
  • Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
  • Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory
Product Images
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 0
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 1
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 2
Detailed Component Illustration
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 3
Comparison of different test probe tip types and configurations
Customization Options
SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:
  • Custom diameters to match your specific requirements
  • Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
  • Custom mechanical specifications tailored to your application
All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.
Manufacturing Process
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 4
Our probe manufacturing facility
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 5
Quality control inspection
Gold Plated Spring Test Probe with 2A Current Rating and Custom Sizes for Semiconductor Testing 6
Packaged probes ready for shipment
Etiquetas：

Eletrônicos de arame de tungstênio revestidos de ouro

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